KREMNIY MONOKRISTALIDA SHAKLLANTIRILGAN ZnO YUPQA QATLAMLARINING STRUKTURAVIY TAHLILI

Ushbu maqolada kremniy monokristali asosida olingan ZnO (rux oksidi) yupqa qatlamlarining tuzilmaviy va morfologik xossalari kompleks tarzda o‘rganilgan. Tadqiqot jarayonida ZnO yupqa qatlamlari turli zamonaviy texnologik usullar yordamida kremniy (Si) substratlar yuzasiga o‘stirilgan. Hosil qilingan qatlamlarning kristall tuzilmasi, donachalar o‘lchami, sirt morfologiyasi hamda ularning fizik xossalari tahlil qilingan. Tuzilmaviy xususiyatlarni aniqlashda rentgen difraksiyasi (XRD) usuli qo‘llanilib, ZnO qatlamlarining yuqori kristallanish darajasi va geksagonal wurtzit strukturaga ega ekanligi aniqlangan. Morfologik tahlillar esa atom-kuch mikroskopiyasi (AFM) va skanerlovchi elektron mikroskopiya (SEM) yordamida amalga oshirilib, qatlam sirtining bir jinsliligi va nanometr o‘lchamdagi donachalar mavjudligi kuzatilgan. Shuningdek, ZnO yupqa qatlamlarining optik va elektr xossalari ularning qo‘llanilish sohalarini kengaytirishi mumkinligi ko‘rsatib berilgan. Tadqiqot natijalari ushbu materiallarning optoelektronika, sensor texnologiyalari va nanoelektronika qurilmalarida samarali foydalanish imkoniyatlarini ochib beradi.